led燈怎么測量阻值？LED的中文名字叫作“發(fā)光二極管”，具體一點到燈具上，指的是燈具的閃光體，又被叫作“燈珠”。LED一類二極管的一種，而二極管又都屬于晶體管的一種，并且是想測量發(fā)光二極管是否是硬件

led燈怎么測量阻值？

LED的中文名字叫作“發(fā)光二極管”，具體一點到燈具上，指的是燈具的閃光體，又被叫作“燈珠”。LED一類二極管的一種，而二極管又都屬于晶體管的一種，并且是想測量發(fā)光二極管是否是硬件損壞，要不使用到萬用表的晶體管檔。（萬用表測量發(fā)光二極管的方法有很多，這里只可以介紹最簡單、最范圍問題于家用的方法。）

簡單的方法轉(zhuǎn)動萬用表的檔位，將其中,選擇到晶體管檔——晶體管檔的圖標(biāo)才能長成下面這個樣子▼

測試出來時，在萬用表的顯示屏上會會顯示一組數(shù)據(jù)，該數(shù)據(jù)顯示的是二極管PN結(jié)的偏置情況。當(dāng)然了，當(dāng)我們在測量LED時，不不需要看什么數(shù)據(jù)，只需要觀察在測量過程中，LED燈有無還能夠亮起表就行。

燈泡的亮度如何測量？

在測試LED芯片的亮度和評價LED光電腦的輻射安全性的過程中，大多數(shù)常規(guī)成像法，這對芯片的測試可以不常規(guī)顯微成像并且測量。光亮度是光源會發(fā)光表面上某一處的亮度L，是該面元dS在決策變量方向上的發(fā)光強度乘以2該面元在垂直于給定方向平面上的正投影面積之商：

光亮度的單位是坎德拉每平方米（cd/m2）。當(dāng)會發(fā)光表面與測量方向垂線時，則6cosθ＝1。

LED光源因其有著壽命長、能耗低、可靠性高、易于控制等特點，正漸漸地取代白熾燈及熒光燈照明市場，下一界第二代照明光源

led燈光強度如何檢測？

1、發(fā)光強度檢測

光強即光的強度，是指在某一某種特定角度內(nèi)所放射光的量。因LED的光線較幾乎全部，在近距離情況下不可以參照平方反比定律，CIE127標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定對光強的測量做出了測量條件A（遠場條件）、測量條件B（近場條件）兩種測量時平均法向光強的條件，2種條件的探測器面積均為1cm2。通常情況下，在用標(biāo)準(zhǔn)條件B測量發(fā)光強度。

2、光通量和光效檢測

光通量是光源所口中發(fā)出的光量之總和，即發(fā)光量。檢測方法要注意除開以上2種：

（1）積分法。在積分球內(nèi)由前到后燃盡標(biāo)準(zhǔn)燈和被測燈，記錄它們在光電轉(zhuǎn)換器的讀數(shù)各為Es和ED。標(biāo)準(zhǔn)燈光通量為.設(shè)Φs，則被測燈的光通量ΦDED×Φs/Es。積分法利用“點光源”原理，操作簡單，但受標(biāo)準(zhǔn)燈與被測燈的色溫偏差影響大，測量誤差較高。

（2）分光法。實際光譜能量P（λ）分布換算結(jié)論光通量。建議使用單色儀，在積分球內(nèi)對標(biāo)準(zhǔn)燈的380nm～780nm光譜參與測量，然后在同條件下對被測燈的光譜參與測量，差別不大計算出被測燈的光通量。

光效為光源能發(fā)出的光通量還不如所消耗掉功率之比，常見需要恒流準(zhǔn)確測量LED的光效。

3、光譜特性檢測

LED的光譜特性檢測和光譜功率分布、色坐標(biāo)、色溫、顯色指數(shù)等內(nèi)容。

光譜功率其分布它表示光源的光是許多相同波長的色電腦的輻射分成的，各個波長的輻射功率大小也完全不同，這種完全不同隨波長順序順序排列就稱做光源的光譜功率分布特點。憑借光譜光度計（單色儀）和標(biāo)準(zhǔn)燈對光源參與比對測量獲得。

色坐標(biāo)是以數(shù)字在坐標(biāo)圖上來表示光源的閃光顏色的量。可以表示顏色的坐標(biāo)圖有多種坐標(biāo)系，常見區(qū)分X、Y坐標(biāo)系。

色溫是來表示人眼看到的光源色表（外觀顏色態(tài)度）的量。光源連續(xù)發(fā)射的光與某一溫度下的確黑體連續(xù)發(fā)射的光顏色是一樣的時，該溫度即為色溫。在照明領(lǐng)域，色溫是具體解釋光源光學(xué)特性的一個重要參數(shù)。色溫的去相關(guān)理論來源于黑體輻射，可是從光源的色坐標(biāo)從真包含有仿宋字體軌跡的色坐標(biāo)中額外。

顯色指數(shù)因為光源發(fā)射時的光對被照物顏色正確具體地的量，大多數(shù)用象顯色指數(shù)Ra意思是，Ra是光源對8個色樣顯色指數(shù)的算術(shù)平均值。顯色指數(shù)是光源質(zhì)量的重要參量，它決定著光源的應(yīng)用范圍，提高白光LED的顯色指數(shù)是LED研發(fā)的重要任務(wù)之一。

4、光強分布測試